【產(chǎn)品名稱】

晶彩科技 - Micro OLED Cover Glass AOI

【設(shè)備規(guī)格與特色】

檢測(cè)范圍：12吋Glass-Wafer(玻璃晶圓)。

適用制程：Cover-glass IQC(進(jìn)料檢驗(yàn))。

Glass缺陷：異物、凹凸點(diǎn)、破片、裂痕、臟污等。

Glass正反面檢測(cè)，并能準(zhǔn)確識(shí)別缺陷位于正面或反面位置。

采用AI AOI智慧檢測(cè)技術(shù)，實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)缺陷分類，提高檢測(cè)效能。

可檢測(cè)最小缺陷尺寸為0.3微米(μm)，實(shí)現(xiàn)極高靈敏度檢測(cè)，確保微小缺陷不被遺漏。

晶彩科技的Micro OLED Cover Glass AOI檢測(cè)設(shè)備，專為Cover-glass IQC(進(jìn)料檢驗(yàn))制程提供全方位的檢測(cè)解決方案。機(jī)臺(tái)精準(zhǔn)檢測(cè)玻璃缺陷，包括異物、凹凸點(diǎn)、破片、裂痕以及臟污等，確保所使用的玻璃芯片符合高質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)。此臺(tái)設(shè)備更具備檢測(cè)玻璃正反面的能力，并能夠準(zhǔn)確辨識(shí)缺陷位于正面或反面的位置。這項(xiàng)功能使機(jī)臺(tái)在確保全面檢測(cè)的提供更詳盡的缺陷定位信息。

設(shè)備采用晶彩AI AOI智能檢測(cè)技術(shù)，實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)缺陷分類，極大提升檢測(cè)效率，確保制程質(zhì)量達(dá)到最高水平。最小缺陷檢測(cè)可達(dá)到0.3微米(μm)，并擁有極高的靈敏度，可靠地檢測(cè)微小缺陷，確保制程達(dá)到極高檢出率。

【晶彩科技 – AI AOI卓越品牌】

晶彩科技擁有超過(guò)24年的豐富光學(xué)檢量測(cè)經(jīng)驗(yàn)，深耕AOI領(lǐng)域多年，設(shè)備多年來(lái)獲得國(guó)內(nèi)外大廠的采用高度信賴。我們深諳AOI技術(shù)的四大核心領(lǐng)域：光學(xué)、檢測(cè)、軟件控制、機(jī)構(gòu)，并致力于以匠人之心打造每一臺(tái)AOI檢量測(cè)設(shè)備，為客戶提供可靠的設(shè)備與服務(wù)。

晶彩科技位于上海的子公司「晶隼彩光電科技（上海）有限公司」，亦為晶彩科技在中國(guó)大陸地區(qū)，提供更全面的國(guó)際化服務(wù)。

【營(yíng)業(yè)據(jù)點(diǎn)】

晶彩科技總部位于臺(tái)灣地區(qū)新竹竹北，在臺(tái)中與臺(tái)南擁有辦公室。晶彩科技亦在上海設(shè)有分公司晶隼彩光電科技（上海）有限公司，專注處理設(shè)備進(jìn)出口、技術(shù)相關(guān)之其他設(shè)備服務(wù)事宜。

為提供中國(guó)地區(qū)的高效快速的服務(wù)，晶彩科技于上海、咸陽(yáng)、滁州、昆山、重慶、福建、武漢、浙江、廣州、長(zhǎng)沙、深圳等地設(shè)有服務(wù)據(jù)點(diǎn)，以實(shí)現(xiàn)全國(guó)范圍內(nèi)客戶的快速支持，打造全方位的AOI產(chǎn)業(yè)布局。

【晶彩科技檢量測(cè)設(shè)備一覽】

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