克萊斯勒、福特和通用汽車為建立一套通用的零件資質(zhì)及質(zhì)量系統(tǒng)標準而設(shè)立了汽車電子會(AEC)，AEC是“AutomotiveElectronicsCouncil：汽車電子協(xié)會”的簡稱，是主要汽車制造商與美國的主要部件制造商匯聚一起成立的、以車載電子部件的可靠性以及認定標準的規(guī)格化為目的的團體，AEC建立了質(zhì)量控制的標準。同時，由于符合AEC規(guī)范的零部件均可被上述三家車廠同時采用，促進了零部件制造商交換其產(chǎn)品特性數(shù)據(jù)的意愿，并推動了汽車零件通用性的實施，為汽車零部件市場的成長打下基礎(chǔ)。

　　壽命老化測試

　　芯片可靠性驗證(RA)：

　　芯片級預(yù)處理(PC)&MSL試驗、J-STD-020&JESD22-A113；

　　高溫存儲試驗(HTSL),JESD22-A103；

　　溫度循環(huán)試驗(TC),JESD22-A104；

　　溫濕度試驗(TH/THB),JESD22-A101；

　　高加速應(yīng)力試驗(HTST/HAST),JESD22-A110；

　　高溫老化壽命試驗(HTOL),JESD22-A108；

　　高溫老化壽命試驗

　　AEC-Q100對IC的可靠性測試可細分為加速環(huán)境應(yīng)力可靠性、加速壽命模擬可靠性、封裝可靠性、晶圓制程可靠性、電學參數(shù)驗證、缺陷篩查、包裝完整性試驗，且需要根據(jù)器件所能承受的溫度等級選擇測試條件。需要注意的是，第三方難以立完成AEC-Q100的驗證，需要晶圓供應(yīng)商、封測廠配合完成，這*加考驗對認證試驗的整體把控能力。中科檢測將根據(jù)客戶的要求，依據(jù)標準對客戶的IC進行評估，出具合理的認證方案，從而助力IC的可靠性認證

　　芯片材料分析：

　　高分辨TEM(形貌、膜厚測量、電子衍射、STEM、HAADF)；

　　SEM(形貌觀察、截面觀察、膜厚測量、EBSD)

　　Raman(Raman光譜)

　　AFM(微觀表面形貌分析、臺階測量)

　　以下供大家參考使用：

　　AEC-Q100Rev-Gbase:集成電路的應(yīng)力測試標準（不包含測試方法）

　　AEC-邦線切應(yīng)力測試

　　AEC-人體模式靜電放電測試

　　AEC-機械模式靜電放電測試

　　AEC-集成電路閂鎖效應(yīng)測試

　　AEC-可寫可擦除的性記憶的耐久性、數(shù)據(jù)保持及工作壽命的測試

　　AEC-熱電效應(yīng)引起的寄生閘漏電流測試

　　AEC-故障仿真和測試等級

　　AEC-早期壽命失效率（ELFR）

　　AEC-電分配的評估

　　AEC-錫球剪切測試

　　AEC-帶電器件模式的靜電放電測試

　　AEC-系統(tǒng)靈敏功率設(shè)備的短路可靠性描述

　　AEC-:分立半導體元件的應(yīng)力測試標準（包含測試方法）

　　AEC-:人體模式靜電放電測試

　　AEC-:機械模式靜電放電測試

　　AEC-:邦線切應(yīng)力測試

　　AEC-:同步性測試方法

　　AEC-:帶電器件模式的靜電放電測試

　　AEC-:12V系統(tǒng)靈敏功率設(shè)備的短路可靠性描述

　　AEC-:半導體被動元件的應(yīng)力測試標準（包含測試方法）

　　AEC-:阻燃性能測試

　　AEC-:人體模式靜電放電測試

　　AEC-:斷裂強度測試

　　AEC-:自恢復保險絲測量程序

　　AEC-:PCB板彎曲/端子綁線應(yīng)力測試

　　AEC-:端子應(yīng)力（貼片元件）/切應(yīng)力測試

　　AEC-:電壓浪涌測試

　　AEC-Q100作用

　　中科檢測，經(jīng)過50余年的發(fā)展，現(xiàn)已成為一家全國化、綜合性的國有第三方計量檢測機構(gòu)，專注于為客戶提供計量、檢測、認證以及技術(shù)咨詢與培訓等技術(shù)服務(wù)，在計量校準、可靠性與環(huán)境試驗、元器件篩選與失效分析檢測、車規(guī)元器件認證測試、電磁兼容檢測等多個領(lǐng)域的技術(shù)能力及業(yè)務(wù)規(guī)模處于國內(nèi)水平。