LVDS接口測試，眼圖測試，LVDS時序測試，抖動測試，上升時間和下降時間測試

LVDS是什么？

LVDS（Low Voltage Differential Signaling，即低電壓差分信號）接口又稱RS-644總線接口，是20世紀90年代才提出的一種數(shù)據(jù)傳輸和接口技術(shù)。LVDS接口是美國NS美國國家半導(dǎo)體公司為克服以TTL電平方式傳輸寬帶高碼率數(shù)據(jù)時功耗大，電磁干擾大等缺點而研制的一種數(shù)字視頻信號傳輸方式。由于其采用低壓和低電流驅(qū)動方式，因此，實現(xiàn)了低噪聲和低功耗。LVDS技術(shù)具有低功耗、低誤碼率、低串?dāng)_和低輻射等特點，其傳輸介質(zhì)可以是銅質(zhì)的PCB連線，也可以是平衡電纜。LVDS在對信號完整性、低抖動及共模特性要求較高的系統(tǒng)中得到了越來越廣泛的應(yīng)用，常見于液晶電視中。

LVDS 工作原理是如何的？ 

在液晶彩電中，LVDS接口電路位于液晶彩電Scaler電路與液晶面板之間，它由主板側(cè)的LVDS信號發(fā)送電路（發(fā)送器）和液晶面板側(cè)的接收電路（接收器）共同組成。LVDS發(fā)送器將Scaler輸出的TTL電平并行RGB數(shù)據(jù)信號和控制信號轉(zhuǎn)換成低電壓串行LVDS信號，然后通過主板與液晶面板之間的柔性電纜（排線）將信號傳送到液晶面板側(cè)的LVDS接收器，LVDS接收器再將串行信號轉(zhuǎn)換為TTL電平的并行信號送往后續(xù)電路（一般是定時控制器TCON）。

LVDS接口定義是咋樣的？

LVDS 接口是咋樣的？

電路板測試服務(wù)項目

① SI信號完整性測試，主要內(nèi)容是電源上電時序、復(fù)位、時鐘、I2C、SPI、Flash、DDR、JTAG接口、CPLD接口測試、URAT測試、網(wǎng)口測試、USB2.0/USB3.0測試、MIPI測試、HDMI測試、及板卡上其它芯片接口的信號測試。

② PI電源完整性測試，主要內(nèi)容是電源的電壓值（精度）、電源噪聲/紋波、電壓上下波形、測量緩啟動電路參數(shù)、電源電流和沖擊電流、電源告警信號、冗余電源的均流參數(shù)。

③ 接口一致性測試，主要有以太網(wǎng)、USB2.0、USB3.0、MIPI、HDMI、SATA、Display Port、PCIE。

 

儀器儀表租售服務(wù)

主要儀器：示波器、信號發(fā)生器、邏輯分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀、頻譜分析儀、功率計、DC程控電源、ESD測試儀、風(fēng)速測試儀、安規(guī)測試儀、負載測試儀、近場測試儀、溫度測試儀等等。

 

實驗室環(huán)境展示