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DDR測試,抖動(dòng)測試,時(shí)序測試,高速電路板測試

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發(fā)布時(shí)間: 2023-12-21 02:55
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DDR測試,抖動(dòng)測試,時(shí)序測試,高速電路板測試


channel > DIMM > rank > chip > bank > row/column
channel (對應(yīng)多個(gè)DDR控制器)> DIMM(內(nèi)存插槽) > rank(一次訪問位寬決定,也成物理bank) > chip(1個(gè)chip大多是4bit/8bit/16bit等,組成一個(gè)rank,配合完成一次訪問的位寬要求。這就是顆粒) > bank(顆粒里的logic-bank,DDR3一般對應(yīng)8個(gè)bank存儲體) > row/column
DDR頁和行的概念理解
DDR logic bank的row就是行,對應(yīng)行地址選中等。
DDR頁的概念,是針對刷新或者訪問來說的,舉例,一個(gè)rank可能有4個(gè)chip組成,一個(gè)chip里可能有8個(gè)bank,每一個(gè)bank有N個(gè)行。頁指的是一個(gè)rank里每個(gè)chip,所有bank的一個(gè)行地址;注意不是一行,是多行,行數(shù)是chip數(shù)目*bank數(shù)目。
所以,DDR頁,可以講為一個(gè)rank里每個(gè)chip的行地址
(ps:在一個(gè)rank里,每個(gè)chip的地址是相同的。因?yàn)槎鄠€(gè)chip組成一個(gè)總數(shù)據(jù)位寬。DDR接口的cs信號,雖然叫chip select,其實(shí)是rank(一組chip)的 select)。
DDR頁的概念,后續(xù)會(huì)講到頁命中、頁miss等,跟cache page原理一樣。
SDRAM開始是時(shí)鐘下降沿采樣,數(shù)據(jù)傳輸速率和頻率是1:1關(guān)系,即一個(gè)周期可傳輸1bit數(shù)據(jù);


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