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潢川縣鑄件焊縫無(wú)損檢測(cè) 表面裂紋磁粉探傷測(cè)試

鑄件焊縫無(wú)損: 表面裂紋磁粉探傷測(cè)試
周期: 3-5天
檢測(cè)范圍: 全國(guó)
單價(jià): 面議
發(fā)貨期限: 自買(mǎi)家付款之日起 天內(nèi)發(fā)貨
所在地: 江蘇 蘇州
有效期至: 長(zhǎng)期有效
發(fā)布時(shí)間: 2023-12-18 11:31
最后更新: 2023-12-18 11:31
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 一、無(wú)損檢測(cè)概述

  無(wú)損檢測(cè)分析

  無(wú)損檢測(cè)無(wú)損檢測(cè)是在不損壞工件或原材料工作狀態(tài)的前提下,對(duì)被檢驗(yàn)部件的表面和內(nèi)部質(zhì)量進(jìn)行檢查的一種測(cè)試手段。

  無(wú)損檢測(cè)方法

  常用的無(wú)損檢測(cè)方法有:X光射線探傷、超聲波探傷、磁粉探傷、滲透探傷、渦流探傷、γ射線探傷、螢光探傷、著色探傷等方法。

  二、無(wú)損檢測(cè)項(xiàng)目

  超聲波檢測(cè)

  超聲波檢測(cè)的基本原理

  超聲波檢測(cè)是利用超聲能透入金屬材料的深處,并由一截面進(jìn)入另一截面時(shí),在界面邊緣發(fā)生反射的特點(diǎn)來(lái)檢查零件缺陷的一種方法,當(dāng)超聲波束自零件表面由探頭通至金屬內(nèi)部,遇到缺陷與零件底面時(shí)就分別發(fā)生反射波來(lái),在螢光屏上形成脈沖波形,根據(jù)這些脈沖波形來(lái)判斷缺陷位置和大小。

  超聲波檢測(cè)的主要特性

  1、超聲波在介質(zhì)中傳播時(shí),在不同質(zhì)界面上具有反射的特性,如遇到缺陷,缺陷的尺寸等于或大于超聲波波長(zhǎng)時(shí),則超聲波在缺陷上反射回來(lái),檢測(cè)儀可將反射波顯示出來(lái);如缺陷的尺寸甚至小于波長(zhǎng)時(shí),聲波將繞過(guò)射線而不能反射;

  2、波聲的方向性好,頻率越高,方向性越好,以很窄的波束向介質(zhì)中輻射,易于確定缺陷的位置。

  3、超聲波的傳播能量大,如頻率為1MHZ(100赫茲)的超生波所傳播的能量,相當(dāng)于振幅相同而頻率為1000HZ(赫茲)的聲波的100萬(wàn)倍。

  超生波檢測(cè)板厚14毫米時(shí),距離波幅曲線上三條主要曲線的關(guān)系

  測(cè)長(zhǎng)線 Ф1 х 6 -12dB

  定量線 Ф1 х 6 -6dB

  判度線 Ф1 х 6 -2dB

超大藍(lán)色主題_副本.jpg

  射線檢測(cè)

  射線檢測(cè)原理:射線檢測(cè)是利用 X射線或γ射線在穿透被檢物各部分時(shí)強(qiáng)度衰減的不同,檢測(cè)被檢物中缺陷的一種無(wú)損檢測(cè)方法。

  無(wú)損上門(mén)檢測(cè) 各種探傷方法檢測(cè)

  無(wú)損探傷檢測(cè)項(xiàng)目:

  磁粉、超聲、滲透、射線、數(shù)字射線成像檢測(cè),適用于各類(lèi)材料、零部件、裝置和設(shè)備的無(wú)損檢測(cè)。

  聲發(fā)射檢測(cè)、超聲顯微鏡、超聲C掃描、渦流檢測(cè)、漏磁檢測(cè)、工業(yè)CT、中子照相、激光全息和激光干涉測(cè)量等,適用于特殊需求的無(wú)損檢測(cè)。

 ?。?)磁粉檢測(cè)

  磁粉檢測(cè)是利用漏磁和合適的檢測(cè)介質(zhì)發(fā)現(xiàn)材料(工件)表面和近表面的不連續(xù)性的。

 ?。?)射線檢測(cè)

  射線檢測(cè)就是利用射線(X射線、Y射線、中子射線等)穿過(guò)材料或工件時(shí)的強(qiáng)度衰減,檢測(cè)其內(nèi)部結(jié)構(gòu)不連續(xù)性的技術(shù)。穿過(guò)材料或工件時(shí)的射線由于強(qiáng)度不同,在感光膠片上的感光程度也不同,由此生成內(nèi)部不連續(xù)的圖像。

 ?。?)超聲波檢測(cè)

  超聲波檢測(cè)就是利用超聲波在金屬、非金屬材料及其工件中傳播時(shí),材料(工件)的聲學(xué)特性和內(nèi)部組織的變化對(duì)超聲波的傳播產(chǎn)生一定的影響,通過(guò)對(duì)超聲波受影響程度和狀況的探測(cè)了解材料(工件)性能和結(jié)構(gòu)變化的技術(shù)。

 ?。?)滲透檢測(cè)

  滲透檢驗(yàn)就是利用液體的毛細(xì)管作用,將滲透液滲入固體材料、工件表面開(kāi)口缺陷處,再通過(guò)顯像劑滲入的滲透液吸出到表面顯示缺陷的存在的檢測(cè)方法。

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