portant; width: auto !important; line-height: 2em !important;">檢測(cè)項(xiàng)目溫度濕度偏置循環(huán)壽命測(cè)試、穩(wěn)態(tài)濕熱偏置壽命試驗(yàn)、高加速蒸煮試驗(yàn)、高溫存儲(chǔ)壽命試驗(yàn)、溫度循環(huán)試驗(yàn)、加電溫度循環(huán)試驗(yàn)、溫度沖擊試驗(yàn)、鹽霧試驗(yàn)、溫度偏置工作壽命試驗(yàn)、高加速壽命試驗(yàn)、高加速無偏置壽命試驗(yàn)、振動(dòng)和掃頻試驗(yàn)、可靠性試驗(yàn)、老化試驗(yàn)、半導(dǎo)體封裝測(cè)試、浸漬試驗(yàn)、低氣壓試驗(yàn)、溫度沖擊試驗(yàn)、沙塵試驗(yàn)，外部火焰試驗(yàn)、低頻振動(dòng)試驗(yàn)、隨機(jī)跌落實(shí)驗(yàn)、穩(wěn)態(tài)濕熱試驗(yàn)、高頻振動(dòng)試驗(yàn)，隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)，耐溶劑試驗(yàn)，顆粒碰撞噪聲試驗(yàn)，介質(zhì)耐壓測(cè)試，絕緣電阻測(cè)試，直流電阻測(cè)試，電容量測(cè)試，品質(zhì)因數(shù)測(cè)試，接觸電阻測(cè)試，旋轉(zhuǎn)壽命試驗(yàn)，固定電阻器電流噪聲測(cè)試，強(qiáng)碰撞沖擊，可焊性，X射線照射，引出端強(qiáng)度，加速度試驗(yàn)，電阻電壓系數(shù)測(cè)試等。相關(guān)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)GJB360B 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 溫度沖擊試驗(yàn)

portant; width: auto !important; line-height: 2em !important;">GB/T 2423.11電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fd:寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)–一般要求

portant; width: auto !important; line-height: 2em !important;">GJB 360A 電子及電氣元件試驗(yàn)方法

portant; width: auto !important; line-height: 2em !important;">GJB 1420A 半導(dǎo)體集成電路外殼總規(guī)范

portant; width: auto !important; line-height: 2em !important;">GJB 128A 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法

portant; width: auto !important; line-height: 2em !important;">GJB 3157 半導(dǎo)體分立器件失效分析方法和程序

portant; width: auto !important; line-height: 2em !important;">GJB 3233 半導(dǎo)體集成電路失效分析程序和方法

portant; width: auto !important; line-height: 2em !important;">　GJB 548A 微電子器件試驗(yàn)方法和程序

portant; width: auto !important; line-height: 2em !important;">　GJB 548B 微電子器件試驗(yàn)方法和程序

portant; width: auto !important; line-height: 2em !important;">GJB 5914 各種質(zhì)量等級(jí)軍用半導(dǎo)體器件破壞性物理分析方法

portant; width: auto !important; line-height: 2em !important;">GJB128A 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方發(fā)方法1071密封

portant; width: auto !important; line-height: 2em !important;">GB/T17574半導(dǎo)體器件集成電路 第2部分：數(shù)字集成電路

portant; width: auto !important; line-height: 2em !important;">GJB597A 半導(dǎo)體集成電路總規(guī)范

portant; width: auto !important; line-height: 2em !important;">GB/T6798半導(dǎo)體集成電路電壓比較器測(cè)試方法的基本原理

portant; width: auto !important; line-height: 2em !important;">GB/T4587半導(dǎo)體分立器件和集成電路 第7部分:雙極型晶體管

portant; width: auto !important; line-height: 2em !important;">GB/T4586半導(dǎo)體器件分立器件第8部分：場(chǎng)效應(yīng)晶體管

portant; width: auto !important; line-height: 2em !important;">GB/T 4023 半導(dǎo)體器件:分立器件和集成電路第2部分:整流二極管

portant; width: auto !important; line-height: 2em !important;">GB/T2693 電子設(shè)備用固定電容器

portant; width: auto !important; line-height: 2em !important;">GB/T5729 電子設(shè)備用固定電阻器

portant; width: auto !important; line-height: 2em !important;">GJB1217A 電連接器試驗(yàn)方法等。