HN1000B 斷路器剩余電流保護(hù)器動(dòng)作特性測(cè)試儀（分A型AC型B型F型） B型剩余電流斷路器測(cè)試儀（以下簡(jiǎn)稱(chēng)測(cè)試儀）是為剩余電流斷路器的性能測(cè)試而研制，它是檢測(cè)B型剩余電流斷路器脫扣電流和分?jǐn)鄷r(shí)間的關(guān)鍵儀器。
測(cè)試儀適用于電子式和電磁式的剩余電流斷路器。
1P+N、2P、、+N、4P的斷路器均能測(cè)試，輸出大剩余電流為2A。
系統(tǒng)顯示和操作采用流行的工業(yè)級(jí)觸摸屏，操作簡(jiǎn)單； 接地方式：可靠接地   測(cè)試儀輸出的電流值為真有效值，測(cè)試不確定度小于1%； （2）50Hz交流剩余電流范圍：0~2A； 選項(xiàng)角為0°的脈動(dòng)直流剩余電流，電流的范圍為0~800mA； 選項(xiàng)角為135°的直流剩余電流，電流的范圍為0~200mA； （5）疊加平滑直流的范圍為5~100mA；  θjA是相對(duì)于環(huán)境溫度的結(jié)點(diǎn)熱阻抗，基于印刷電路板(攝氏度/W)的封裝，通常是在150℃的典型結(jié)溫(有些部件的結(jié)溫可能較低，需在數(shù)據(jù)表上確認(rèn))條件下計(jì)算出來(lái)的。
所需θjA應(yīng)為如下方程式：≤(結(jié)溫-工作溫度)/Pd(等式2)。
濾掉封裝中的器件，這樣θjA比滿足此初始結(jié)溫要求的上述計(jì)算結(jié)果要低。
在結(jié)溫時(shí)操作會(huì)影響其可靠性。
視電路板、氣流、環(huán)境和附近的其他熱源而定，留一定的余量始終是一個(gè)很好的設(shè)計(jì)實(shí)踐。
從上述原理可知，諧波源負(fù)載是否會(huì)對(duì)同一個(gè)電網(wǎng)上的電子設(shè)備造成干擾，主要取決于電子設(shè)備的電源線輸入端電壓諧波畸變的大小，以及電子設(shè)備供電電源的抗干擾能力。
諧波源負(fù)載產(chǎn)生同樣的諧波電流的情況下，與變壓器之間的距離越遠(yuǎn)，則對(duì)應(yīng)的電網(wǎng)阻抗越大，引起的電壓畸變就越大，越容易對(duì)同一個(gè)電網(wǎng)上的電子設(shè)備形成干擾。
而不同的電子設(shè)備抗畸變電壓的能力也有優(yōu)劣之分，在同一供電網(wǎng)絡(luò)，某臺(tái)電子設(shè)備會(huì)受干擾，并不意味著所有的電子設(shè)備在這個(gè)位置都會(huì)受干擾。
一般來(lái)說(shuō)，時(shí)鐘頻率跑的越快，則CPU每秒所能完成的運(yùn)算次數(shù)就越多，性能自然更好，隨著時(shí)鐘頻率的增加，CPU就會(huì)變得越來(lái)越熱，這是CPU內(nèi)部CMOS管耗散功率加大的體現(xiàn)，過(guò)高的溫度會(huì)影響系統(tǒng)的運(yùn)行，所以有必要采取措施來(lái)“監(jiān)控”CPU的溫度，把它限制在一定溫度范圍內(nèi)，以確保CPU的可靠運(yùn)行。
由于二極管制造工藝的特殊性，我們可以利用二極管的伏安特性來(lái)測(cè)量CPU的溫度，它的伏安特性如下圖：眾所周知，將PN結(jié)用外殼封裝起來(lái)，并加上電極引線就構(gòu)成了半導(dǎo)體二極管，簡(jiǎn)稱(chēng)為二極管。