一、高溫試驗:

不帶電貯存:70℃，保持48h，恢復(fù)2h，測試設(shè)備是否工作正常;帶電工作:55℃，保持工作狀態(tài)，觀察設(shè)備是否正常工作;依據(jù)標(biāo)準(zhǔn):GJB1503A-2009 GBT2423.2等。

二、低溫試驗:

不帶電貯存:-40℃保持24h，恢復(fù)2h。測試設(shè)備是否工作正常:帶電工作:-20℃，保持工作狀態(tài)，觀察設(shè)備是否正常工作;參考標(biāo)準(zhǔn):GJB1等。

按地區(qū)和使用場合不同，GB2423.1-81和GB2423.2-81分別規(guī)定了不同溫度等級的優(yōu)先數(shù)值。

低溫環(huán)境溫度:-65℃，-55"C，-45"C,-40℃，30℃，-25℃-15℃，-10℃，-5℃.0℃，+5℃;

高溫環(huán)境溫度:+200℃，+17S℃+155℃+125℃+100℃+8S℃+70℃，+65℃，+60℃+55℃，+50℃+45℃，+40℃+3S℃，+30℃。溫度的允許偏差范圍均為±2℃。

在試驗樣品溫度達(dá)到穩(wěn)定后，高、低溫條件試驗的持續(xù)時間根據(jù)需要從下列數(shù)據(jù)中選取:

2、16、72、95(h)

測試標(biāo)準(zhǔn)

GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗*2部分:試驗方法試驗B:高溫 GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗*2部分:試驗方法試驗A:低溫 IEC基本環(huán)境試驗規(guī)程*2-2部分:試驗試驗B:干熱 IEC:2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗:低溫