負(fù)載箱是一種用于測試電子設(shè)備的工具，它可以模擬真實(shí)的電子電路，為測試及產(chǎn)品開發(fā)提供數(shù)據(jù)。大功率負(fù)載箱有助于在真實(shí)情況下對各種電氣和電子元件進(jìn)行耐久性測試，并幫助廠商驗(yàn)證新產(chǎn)品以便在市場上釋放。

大功率負(fù)載箱的作用是將不同的電子元件連接到一個(gè)封閉式裝置中，并通過一個(gè)外部信號來測量所需要的信號。通常，這個(gè)裝置會(huì)使用不同的傳感器來監(jiān)控信號并提供數(shù)據(jù)。使用者通過將特定的信號應(yīng)用到裝置中來測試元件的性能，或者測量不同部件之間的耦合效應(yīng)。

此外，大功率負(fù)載箱能夠?qū)Ω鱾€(gè)部件進(jìn)行真實(shí)情況下的耐久性測試，包括但不限于回波、失真、EMC/EMI、焊接、強(qiáng)度、雜散和不易衰減特性。此外，使用者也能利用大功率負(fù)載盒來測量無干擾性能或額定加工能力特性。

此外，大功耗無法直接使用在常規(guī)應(yīng)用上（如LED顯存或DC/DC升壓/降壓應(yīng)用)因此必須使其滿足相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)化要求方可生產(chǎn)使其滿足應(yīng)用需要（如：UL標(biāo)志，F(xiàn)CC標(biāo)志，CE標(biāo)志)。大功費(fèi)費(fèi)特特是非非常高的

因此，當(dāng)要對新產(chǎn)品或已有產(chǎn)品進(jìn)行耐久性測試，校準(zhǔn)，樣機(jī)開發(fā)時(shí)，都會(huì)需要使用到大功耗.它能幫助廠家檢驗(yàn)新產(chǎn)品是否能處理高水平的工作，并滿足市場上釋放所必要的標(biāo)準(zhǔn).