安車昇輝檢測(cè)第三方機(jī)構(gòu)性測(cè)試實(shí)驗(yàn)室擁有CNAS和CMA資質(zhì)。測(cè)試項(xiàng)目包括：防水防塵測(cè)試、振動(dòng)、機(jī)械沖擊、高壓蒸煮、包裝跌落，恒溫恒濕，冷熱沖擊、氣體腐蝕、鹽霧、氙燈老化、抗拉強(qiáng)度、硬度、拉伸強(qiáng)度、高低溫測(cè)試等服務(wù)。如若您有關(guān)于檢測(cè)認(rèn)證的問(wèn)題可以咨詢我們，我們將為您解答，服務(wù)至您滿意為止! 

產(chǎn)品高加速HALT試驗(yàn)依據(jù)基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)GB/T《電工電子產(chǎn)品加速試驗(yàn)規(guī)程高加速壽命試驗(yàn)導(dǎo)則》進(jìn)行測(cè)試。

試驗(yàn)應(yīng)力：高溫步進(jìn)、低溫步進(jìn)、快速溫度變化循環(huán)、六自由度非高斯寬帶隨機(jī)振動(dòng)等測(cè)試應(yīng)力類型。

試驗(yàn)項(xiàng)目：

常溫性能試驗(yàn)；

溫度均勻性測(cè)試；

低溫步進(jìn)試驗(yàn)；

高溫步進(jìn)試驗(yàn)；

快速溫度循環(huán)試驗(yàn)；

振動(dòng)步進(jìn)試驗(yàn)；

快速溫變循環(huán)與振動(dòng)步進(jìn)綜合試驗(yàn)。

高加速壽命（HALT）試驗(yàn)簡(jiǎn)介：

高加速試驗(yàn)一般分為高加速壽命試驗(yàn)和高加速應(yīng)力應(yīng)力篩選試驗(yàn)，高加速壽命試驗(yàn)（Highly Accelerated Life Testing，簡(jiǎn)稱HALT試驗(yàn)）是一種利用快速高、低溫變換的震蕩體系來(lái)揭示電子和機(jī)械裝配件設(shè)計(jì)缺陷和不足的過(guò)程。HALT的目的是在產(chǎn)品開(kāi)發(fā)的早期階段識(shí)別出產(chǎn)品的功能和破壞極限，從而優(yōu)化產(chǎn)品的可靠性。HALT不是一種合格或者不合格的測(cè)試，是一種協(xié)助設(shè)計(jì)工程師改善產(chǎn)品可靠性的工具，沒(méi)有預(yù)先設(shè)定極限，極限由產(chǎn)品決定，逐步增加應(yīng)力，直至失效，試驗(yàn)中需要對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行監(jiān)測(cè)。HASS（Highly Accelerated Stress Screening）試驗(yàn)產(chǎn)品通過(guò)HALT試驗(yàn)得出操作或破壞極限值后所做的高加速應(yīng)力篩選,應(yīng)力低于HALT試驗(yàn)?？砷_(kāi)展的Halt/Hass試驗(yàn)，提供低溫步進(jìn)應(yīng)力試驗(yàn)、高溫步進(jìn)應(yīng)力試驗(yàn)、振動(dòng)步進(jìn)應(yīng)力試驗(yàn)、快速熱循環(huán)試驗(yàn)和綜合應(yīng)力試驗(yàn)，在這些試驗(yàn)過(guò)程中，往往伴隨著工作應(yīng)力如產(chǎn)品開(kāi)/關(guān)機(jī)，電壓位偏，頻率拉偏等。

HALT用以暴露與產(chǎn)品設(shè)計(jì)有關(guān)的早期失效故障，同時(shí)也用于提高產(chǎn)品在有效壽命期內(nèi)抗隨機(jī)故障的壯實(shí)度；HASS應(yīng)用于產(chǎn)品制造階段，幫助減少產(chǎn)品與制造工藝有關(guān)的早期失效率。產(chǎn)品的HALT試驗(yàn)總是先于HASS試驗(yàn)進(jìn)行，因?yàn)镠ASS試驗(yàn)剖面圖參數(shù)要根據(jù)HALT的試驗(yàn)結(jié)果來(lái)確定。

HALT采用對(duì)樣品系統(tǒng)地施加步進(jìn)應(yīng)力的方法，讓樣品承受逐步增加的環(huán)境應(yīng)力（振動(dòng)、溫度和濕度等）、附加應(yīng)力（電源周期通斷、電壓拉偏和頻率拉偏等）和工作應(yīng)力來(lái)快速激發(fā)產(chǎn)品的設(shè)計(jì)缺陷，暴露設(shè)計(jì)薄弱環(huán)節(jié)，確定產(chǎn)品的工作極限和破壞極限，從而在短期內(nèi)為產(chǎn)品改進(jìn)設(shè)計(jì)提供信息。在應(yīng)力步進(jìn)施加過(guò)程中各量級(jí)應(yīng)力可以大大走出技術(shù)規(guī)范極限。