鹽霧試驗基本介紹

鹽霧試驗有中性鹽霧試驗(NSS)、醋酸鹽霧(AASS) 和銅加速醋酸鹽霧(CASS)也稱氯化銅醋酸鹽霧)試驗三種, 其中應(yīng)用*廣的是中性鹽霧試驗。中性鹽霧試驗主要用來對金屬材料以及金屬上的金屬鍍層或非金屬無機(jī)鍍層的檢驗，也用來檢驗涂覆系統(tǒng)。與此相反，醋酸鹽霧和銅加速醋酸鹽霧一般只用于金屬鍍層的檢驗而不用于有機(jī)覆層的檢驗。

鹽是世界上*普遍的化合物之一。在海洋、大氣、陸地表面、湖泊和河流中均能發(fā)現(xiàn)鹽。因此，使物品避免暴露在鹽霧是不可能的。鹽霧環(huán)境對電工、電子產(chǎn)品的影響僅次于溫度、振動、濕熱及沙塵環(huán)境。

金屬腐蝕是一種自發(fā)氧化的過程。鹽霧環(huán)境下，由于鹽霧液體作為電解液存在，增加了金屬內(nèi)部構(gòu)成微電池的機(jī)會，加速了電化學(xué)腐蝕過程，使金屬或涂層腐蝕生銹、起泡，從而產(chǎn)生構(gòu)件、緊固件腐蝕破壞，機(jī)械部件、組件的活動部位的阻塞或黏結(jié)，使動部件卡死、失靈，出現(xiàn)微細(xì)導(dǎo)線、印刷線路板開路或短路，元件腿斷裂等情形。同時，鹽溶液的導(dǎo)電性大大降低了絕緣體表面電阻和體積電阻，其鹽霧腐蝕物與鹽溶液的干燥結(jié)晶（鹽粒）間的電阻會比原金屬高，會增加該部位電阻和電壓降，影響觸電動作，從而嚴(yán)重影響產(chǎn)品電性能。因此，對電工電子產(chǎn)品進(jìn)行鹽霧試驗是考察產(chǎn)品抗腐蝕能力的一個重要方法。

鹽霧試驗有中性鹽霧試驗(NSS)、醋酸鹽霧(AASS) 和銅加速醋酸鹽霧(CASS)也稱氯化銅醋酸鹽霧)試驗三種, 其中應(yīng)用*廣的是中性鹽霧試驗。中性鹽霧試驗主要用來對金屬材料以及金屬上的金屬鍍層或非金屬無機(jī)鍍層的檢驗，也用來檢驗涂覆系統(tǒng)。與此相反，醋酸鹽霧和銅加速醋酸鹽霧一般只用于金屬鍍層的檢驗而不用于有機(jī)覆層的檢驗。

鹽霧試驗的目的是考核產(chǎn)品或金屬材料的耐鹽霧腐蝕質(zhì)量，而鹽霧試驗結(jié)果的判定正是對產(chǎn)品質(zhì)量的主要評價因素，它的判定結(jié)果是否正確合理是正確衡量產(chǎn)品或涂層抗鹽霧腐蝕性能的關(guān)鍵。試驗的結(jié)果包括起泡、生銹、附著力的降低、由劃痕處腐蝕的蔓延等。由于鹽霧試驗結(jié)果評價相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)并不普及，其判定方法也在探討中。各類標(biāo)準(zhǔn)體系中，鹽霧結(jié)果評價推薦使用：《GB／T 1766—2008 色漆和清漆涂層老化的評級方法》和《GB／T 6461—2002 金屬基體上金屬和其他無機(jī)覆蓋層經(jīng)腐蝕試驗后的試樣和試件的評級》。

常見的鹽霧腐蝕類型：

1、 一般表面腐蝕

從整個材料-侵蝕介質(zhì)的接觸表面上材料被均勻除去。這是一種很常見的腐蝕類型。常見的類型為片狀腐蝕、面狀腐蝕。

2、點腐蝕（孔蝕）

腐蝕介質(zhì)對有限局部的侵蝕，它透入材料形成孔洞或凹坑，其深度幾乎總是大于其直徑。事實上在點腐蝕區(qū)外的表面上沒有金屬被去除。點腐蝕常常是鹵化物離子造成的。

3、縫隙腐蝕

主要發(fā)生在狹窄縫隙處的腐蝕，這是由于腐蝕介質(zhì)中的濃度差造成的，例如長的氧擴(kuò)散通道造成的結(jié)果。這類腐蝕使縫隙兩端之間產(chǎn)生電位差，導(dǎo)致通風(fēng)不良處腐蝕加劇。

4、脫鋅

鋅從黃銅中有選擇地溶解，從而留下一種多孔性的紫銅組織。脫鎳和脫鋁過程與此相似。

5、鐵銹

在鐵和鋼上形成正亞鐵氧化物和氫氧化物腐蝕產(chǎn)物。

6、失光

物體表面的光澤度變小。