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EEPROM器件性能測(cè)試 眼圖測(cè)試 抖動(dòng)測(cè)試 時(shí)序測(cè)試 電源紋波測(cè)試

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發(fā)布時(shí)間: 2023-12-14 12:35
最后更新: 2023-12-14 12:35
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由于EPROM操作的不便,后來(lái)出的主板上BIOS ROM芯片大部分都采用EEPROM(Electrically Erasable Programmable ROM,電可擦除可編程ROM)。EEPROM的擦除不需要借助于其它設(shè)備,它是以電子信號(hào)來(lái)修改其內(nèi)容的,而且是以Byte為最小修改單位,不必將資料全部洗掉才能寫入,徹底擺脫了EPROM Eraser和編程器的束縛。EEPROM在寫入數(shù)據(jù)時(shí),仍要利用一定的編程電壓,此時(shí),只需用廠商提供的專用刷新程序就可以輕而易舉地改寫內(nèi)容,所以,它屬于雙電壓芯片。借助于EEPROM芯片的雙電壓特性,可以使BIOS具有良好的防毒功能,在升級(jí)時(shí),把跳線開關(guān)打至“on”的位置,即給芯片加上相應(yīng)的編程電壓,就可以方便地升級(jí);平時(shí)使用時(shí),則把跳線開關(guān)打至“off”的位置,防止CIH類的病毒對(duì)BIOS芯片的非法修改。所以,仍有不少主板采用EEPROM作為BIOS芯片并作為自己主板的一大特色。

北京淼森波信息技術(shù)有限公司主要提供高速電路測(cè)試服務(wù)和儀器儀表租售業(yè)務(wù)。

高速電路測(cè)試服務(wù)項(xiàng)目有:① SI信號(hào)完整性測(cè)試,主要內(nèi)容是電源上電時(shí)序、復(fù)位、時(shí)鐘、I2C、SPI、Flash、DDR、JTAG接口、CPLD接口測(cè)試、URAT測(cè)試、網(wǎng)口測(cè)試、USB2.0/USB3.0測(cè)試、MIPI測(cè)試、HDMI測(cè)試、及板卡上其它芯片接口的信號(hào)測(cè)試。② PI電源完整性測(cè)試,主要內(nèi)容是電源的電壓值(精度)、電源噪聲/紋波、電壓上下波形、測(cè)量緩啟動(dòng)電路參數(shù)、電源電流和沖擊電流、電源告警信號(hào)、冗余電源的均流參數(shù)。③ 接口一致性測(cè)試,主要有以太網(wǎng)、USB2.0、USB3.0、MIPI、HDMI、SATA、Display Port、PCIE。



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