什么樣的器件需做替代測(cè)試，及為什么： 1 、首先肯定不是所有器件需做替代測(cè)試 （比如電阻、 電容、電感肯定不需做替代測(cè)試） ； 2 、對(duì)于已經(jīng)批量發(fā)貨的整機(jī)產(chǎn)品，更換的新器件 需做替代測(cè)試，包括 同一器件換生 產(chǎn)工藝、 同一器件換生產(chǎn)工廠等， 而不僅是大家通常意義上理解的新廠家、 新規(guī)格型號(hào)器件。 3 、 只 針 對(duì) 高 速 信 號(hào) 、 關(guān) 鍵 器 件 做 替 代 測(cè) 試 ， 比 如 “ 基 帶 芯 片 / 射 頻 功 放 /DDR/DDR2/DDR3/EMCP/FLASH/ 電源芯片 /晶振”。 這些器件對(duì) 信號(hào)質(zhì)量、時(shí)序、環(huán)境應(yīng)力 比較敏感，一旦此類(lèi)器件出問(wèn)題，整機(jī)就會(huì) 出現(xiàn)嚴(yán)重的功能性問(wèn)題。