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測試設(shè)備集成電路,微波爐高壓變壓器測量

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發(fā)布時間: 2023-11-29 07:01
最后更新: 2023-11-29 07:01
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測試設(shè)備集成電路,微波爐高壓變壓器測量

IC測試一般它分為兩大部分:前道工序和后道工序。

前道工序

該過程包括:(1)將粗糙的硅礦石轉(zhuǎn)變成高純度的單晶硅。

(2)在Wafer上制造各種IC元件。

(3)測試Wafer上的IC芯片。

后道工序

該過程包括:(1)對Wafer(晶圓)劃片(進(jìn)行切割)

(2)對IC芯片進(jìn)行封裝和測試。


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