sem檢測(cè)就是掃描電鏡檢測(cè)，隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展,掃描電鏡已成為檢測(cè)固體物質(zhì)的重要手段。利用電子顯微術(shù)力求觀察到更微小的物體結(jié)構(gòu),甚至單個(gè)原子;力求從試樣上得到更多的信息,以便對(duì)其

進(jìn)行各種研究。由于掃描電鏡具有分辨能力高,景深長(zhǎng)，視野大,成像富有立體感，可以直接觀察樣品凹凸不平的表面，例如金屬斷口，催化劑表面，無(wú)機(jī)非金屬材料的形貌等等。用掃描電鏡還可以進(jìn)

行電子通道花樣分析，從而研究試樣微區(qū)的晶體學(xué)位向,晶體對(duì)稱性,應(yīng)變稱度和位錯(cuò)密度等問(wèn)題。

檢測(cè)內(nèi)容

掃描電子顯微鏡主要用于對(duì)材料形貌/尺寸進(jìn)行觀察并分析,對(duì)帶有鍍層的材料膜層分析、對(duì)材料微區(qū)進(jìn)行EDS元素分析、細(xì)胞觀察,同時(shí)在對(duì)材料進(jìn)行失效分析時(shí)進(jìn)行元素測(cè)定、金相分析等。廣泛用

于材料、化學(xué)、生物、醫(yī)學(xué)、地質(zhì)等領(lǐng)域。

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

產(chǎn)品名稱.

檢測(cè)項(xiàng)目

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

sem檢測(cè)

常規(guī)形貌高分辨形貌BSE背散射，能譜EDS點(diǎn)掃線掃面掃等

GA/T1418-2017、