微量污染物分析服務(wù)場(chǎng)景：

　　需要了解不明物質(zhì)（粉體、顆粒等）是什么

　　產(chǎn)品表面出現(xiàn)斑點(diǎn)、異物、析出物等，需要尋找根源，解決問(wèn)題

　　想了解產(chǎn)品純度，材質(zhì)是什么

　　需要了解某些物質(zhì)的成分組成、元素、離子等含量

　　研發(fā)實(shí)力不足，或研發(fā)進(jìn)度較慢

　　微量污染物分析手段：

　　傅立葉變換顯微紅外光譜分析（FTIR）

　　紅外顯微鏡

　　顯微共焦拉曼光譜儀（Raman）

　　掃描電鏡及能譜分析（SEM/EDS）

　　X射線熒光光譜分析（XRF）

　　氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用儀（GC-MS）

　　裂解氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用（PGC-MS）

　　核磁共振分析（NMR）

　　俄歇電子能譜分析（AES）

　　X射線光電子能譜分析（XPS）

　　X射線衍射儀（XRD）

　　微量污染物檢測(cè)材質(zhì)：

　　各類高分子材料

　　建筑助劑、紡織印染助劑

　　表面處理、電鍍添加劑

　　脫模劑、造紙助劑

　　表面活性劑

　　生物醫(yī)藥

　　清洗劑

XPS只是對(duì)物質(zhì)表層進(jìn)行分析（2-10 nm），且厚度不如EDX，也無(wú)法進(jìn)行可視化操作。

　　XPS廣泛使用的原因主要有以下幾點(diǎn)：

　　⑴可測(cè)除H、He以外的所有元素。檢測(cè)靈敏度約為0.1 at%。

　?、苼唵螌屿`敏度；探測(cè)深度1～10nm，依賴材料和實(shí)驗(yàn)參數(shù)。

　　⑶可元素定量分析。

　　⑷優(yōu)異的化學(xué)信息，化學(xué)位移和衛(wèi)星結(jié)構(gòu)與完整的標(biāo)準(zhǔn)化合物數(shù)據(jù)庫(kù)的聯(lián)合使用。

　　⑸分析是非結(jié)構(gòu)破壞的；X射線束損傷通常微不足道。

　?、试敿?xì)的電子結(jié)構(gòu)和某些幾何信息。

　　XPS元素分析適合分析材料:

　　金屬、高分子等材料，薄膜，涂層等

　　XPS元素分析應(yīng)用領(lǐng)域：

　　半導(dǎo)體技術(shù)、冶金、催化、礦物加工和晶體生長(zhǎng)等

　　更多關(guān)于 金屬材料表面元素分析 成分分析 XPS測(cè)試，請(qǐng)咨詢啟威測(cè)實(shí)驗(yàn)室。

更多關(guān)于微量污染物鑒定 成分分析，請(qǐng)聯(lián)系實(shí)驗(yàn)室。