高低溫老化測(cè)試、溫濕度循環(huán)老化測(cè)試、溫度沖擊老化測(cè)試、振動(dòng)、機(jī)械沖擊、跌落、防塵防水、高壓清洗、按鍵疲勞和壽命測(cè)試，插拔疲勞和壽命等測(cè)試； 

樣品量：4套

周期：試驗(yàn)循環(huán)周期 結(jié)束后2天

 耐候老化測(cè)試：紫外UV老化測(cè)試、氙燈老化測(cè)試、碳弧燈老化測(cè)試、鹵素?zé)衾匣?/span>測(cè)試、橡膠臭氧老化測(cè)試、熱空氣老化測(cè)試、老化后色差/灰標(biāo)評(píng)價(jià)、機(jī)械性能老化測(cè)試、老化前后硬度、強(qiáng)度測(cè)試、沖上擊測(cè)試、；

老化試驗(yàn)主要是指針對(duì)橡膠、塑料產(chǎn)品、電器絕緣材料及其他材料進(jìn)行的熱氧老化試驗(yàn)；或者針對(duì)電子零配件、塑化產(chǎn)品的換氣老化試驗(yàn)。 

老化試驗(yàn)又分為溫度老化、陽(yáng)光輻照老化、加載老化等等。

高溫老化一般分幾個(gè)等級(jí)進(jìn)行,工業(yè)的一般用70度,4個(gè)小時(shí),15度一個(gè)等級(jí),一般有40度,55度70度,85度幾個(gè)等級(jí),時(shí)間一般都是4個(gè)小時(shí)。

根據(jù)老化試驗(yàn)產(chǎn)品的多少分為2種方法測(cè)試

1、老化箱；主要針對(duì)塑膠產(chǎn)品，而且數(shù)量和體積不很大的產(chǎn)品比較實(shí)用

2、老化柜或是老化房；主要針對(duì)高性能電子產(chǎn)品（如：計(jì)算機(jī)整機(jī)，顯示器，終端機(jī)，車用電子產(chǎn)品，電源供應(yīng)器，主機(jī)板、監(jiān)視器、交換式充電器等）仿真出一種高溫、惡劣環(huán)境測(cè)試的設(shè)備，是提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的重要實(shí)驗(yàn)設(shè)備、是各生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和競(jìng)爭(zhēng)性的重要生產(chǎn)流程，該設(shè)備廣泛應(yīng)用于電源電子、電腦、通訊、生物制藥等領(lǐng)域

主要的老化試驗(yàn)項(xiàng)目是：

1、光老化測(cè)試+波長(zhǎng)范圍：氙弧燈老化（300-800nm）、紫外燈老化（280-400nm）、碳弧燈老化（300-700nm），金屬鹵素?zé)衾匣?/span>280-3000nm）。

主要參考標(biāo)準(zhǔn)有：

氙弧燈老化：GB/T 16422.2(等同與GB/T4892.2)、GB/T 8427、GB/T 1865ASTM D4355、ASTM G155、JIS K5600等

紫外光老化：GB/T 16422.3(等同與GB/T4892.3)、GB/T 18950、ASTM G 154ASTM D-4674、ASTM_D4674、JIS K 7350 等

碳弧燈老化：GB/T 16422.3(等同與GB/T4892.3)、ASTM G153、JIS D 0205JIS B 7753等

金屬鹵素?zé)衾匣?/span>GB 2423.24、IEC60068-2-5、DIN75520等

光老化是戶外使用材料受到的主要老化破壞，對(duì)于室內(nèi)使用材料，也會(huì)受到一定程度的光老化。模擬光老化主要的三種燈源各有優(yōu)異，碳弧燈發(fā)明使用，建立的測(cè)量體系較早、很多日本標(biāo)準(zhǔn)和纖維材料方面的標(biāo)準(zhǔn)都使用碳弧燈，但由于碳弧燈價(jià)格較高、性能不夠穩(wěn)定（燈管使用90小時(shí)后需要更換），已經(jīng)逐漸被氙弧燈、紫外燈代替。氙燈在模擬自然光方面有較大優(yōu)勢(shì)，價(jià)格也相對(duì)較低，適合多數(shù)產(chǎn)品的使用。紫外燈產(chǎn)生的是400nm以下的光，能較好地加速模擬自然光中紫外線對(duì)材料的破壞作用，加速因子比氙燈要高，光源穩(wěn)定性也比氙燈要好，但容易產(chǎn)生非自然光產(chǎn)出的破壞（尤其是UVB燈）。

主要應(yīng)用范圍：戶外、室內(nèi)使用的橡塑、涂料、油墨產(chǎn)品，通訊、電器等設(shè)備外殼，汽車件、摩托車配件。

2、熱老化

主要參考標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 7141、ASTM D3045、JIS K 6257等。

GB/T20028硫化橡膠或熱塑性橡膠 應(yīng)用阿累尼烏斯圖推算壽命和使用溫度。

 眾所周知，電子產(chǎn)品在生產(chǎn)出廠過(guò)程中，總有一個(gè)步驟是必不可少的，那就是高低溫老化測(cè)試。那么，電子產(chǎn)品為什么要進(jìn)行高低溫老化測(cè)試呢？我相信這個(gè)問(wèn)題很多人都有想過(guò)，那么今天就請(qǐng)跟隨環(huán)境老化測(cè)試專家——深圳華瑞測(cè)實(shí)驗(yàn)室（高低溫老化測(cè)試廠家）一起來(lái)探究一下吧。

    隨著電子技術(shù)的發(fā)展，電子產(chǎn)品的集成化程度越來(lái)越高，結(jié)構(gòu)越來(lái)越細(xì)微，工序越來(lái)越多，制造工藝越來(lái)越復(fù)雜，這樣在制造過(guò)程中會(huì)產(chǎn)生一些潛伏缺陷。電子產(chǎn)品在生產(chǎn)制造時(shí),因設(shè)計(jì)不合理、原材料或工藝措施方面的原因引起產(chǎn)品的質(zhì)量問(wèn)題概括有兩類：

    類是產(chǎn)品的性能參數(shù)不達(dá)標(biāo)，生產(chǎn)的產(chǎn)品不符合使用要求；

    第二類是潛在的缺陷，這類缺陷不能用一般的測(cè)試手段發(fā)現(xiàn)，而需要在使用過(guò)程中逐漸地被暴露，如硅片表面污染、組織不穩(wěn)定、焊接空洞、芯片和管殼熱阻匹配不良等等。

    一般這種缺陷需要在元器件工作于額定功率和正常工作溫度下運(yùn)行一千個(gè)小時(shí)左右才能全部被(暴露)。顯然，對(duì)每只元器件測(cè)試一千個(gè)小時(shí)是不現(xiàn)實(shí)的，所以需要對(duì)其施加熱應(yīng)力和偏壓，例如進(jìn)行高溫功率應(yīng)力試驗(yàn)，來(lái)加速這類缺陷的提早暴露。也就是給電子產(chǎn)品施加熱的、電的、機(jī)械的或多種綜合的外部應(yīng)力，模擬嚴(yán)酷工作環(huán)境，消除加工應(yīng)力和殘余溶劑等物質(zhì)，使?jié)摲收咸崆俺霈F(xiàn)，盡快使產(chǎn)品通過(guò)失效浴盆特性初期階段，進(jìn)入高可靠的穩(wěn)定期。

     通過(guò)高溫老化可以使元器件的缺陷、焊接和裝配等生產(chǎn)過(guò)程中存在的隱患提前暴露，老化后再進(jìn)行電氣參數(shù)測(cè)量，篩選剔除失效或變值的元器件，盡可能把產(chǎn)品的早期失效消滅在正常使用之用，從面保證出廠的產(chǎn)品能經(jīng)得起時(shí)間的考驗(yàn)。

溫濕度組合循環(huán)老化試驗(yàn)、交變濕熱老化試驗(yàn)、恒定濕熱老化試驗(yàn)、高低溫度變化試驗(yàn)、恒溫恒濕試驗(yàn)、高溫試驗(yàn)、低溫試驗(yàn)、

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫GB/T 2423.1-2008

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法   IEC 60068-2-1：2007

軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分：低溫試驗(yàn)     GJB 150.4A-2009

電連接器和插座低溫測(cè)試程序   EIA-364-59A-2006(R2013)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：高溫GB/T 2423.2-2008

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法   IEC 60068-2-2：2007

軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法：高溫試驗(yàn)   GJB 150.3A-2009

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化GB/T 2423.22-2012

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化IEC 60068-2-14：2009

軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法：溫度沖擊 GJB 150.5A-2009

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)  GB/T 2423.3-2006      

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法     IEC 60068-2-78：2012

電連接器和插座的濕度測(cè)試程序  EIA-364-31D-2014

色漆和清漆 耐濕性的測(cè)定連續(xù)冷凝法GB/T13893-2008

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db：交變濕熱（12h+12h循環(huán)）GB/T 2423.4-2008

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Db:交變濕熱（12h+12h循環(huán)） IEC 60068-2-30：2005

漆膜耐濕熱測(cè)定法GB/T1740-2007

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)ZAD：溫度濕度組合循環(huán)試驗(yàn)GB/T 2423.34-2012

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)  IEC 60068-2-38：2009

色漆和清漆 耐熱性的測(cè)定GB/T 1735-2009

電連接器和插座的溫度壽命測(cè)試（帶載或不帶載）程序      EIA-364-17C-2011電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫GB/T 2423.1-2008

電連接器和插座的溫度壽命測(cè)試（帶載或不帶載）程序EIA-364-17C-2011

華瑞測(cè)分析實(shí)驗(yàn)室專業(yè)電子產(chǎn)品高低溫老化測(cè)試、高低溫循環(huán)老化測(cè)試、恒溫恒濕老化測(cè)試、高低溫沖擊老化測(cè)試、紫外光老化測(cè)試等各種電子產(chǎn)品專用環(huán)境老化測(cè)試服務(wù)，通過(guò)多年的不斷努力與客戶的支持與信賴，試驗(yàn)已經(jīng)應(yīng)用于：航空、航天、IT、通訊、電器、汽車、化工、塑膠、橡膠、塑料、金屬、建筑、電線電纜、皮革、紡織、機(jī)械、箱包、印刷及其高等院校等各大領(lǐng)域。技術(shù)、品質(zhì)、服務(wù)快捷到位，如有需求，敬請(qǐng)與我們通電，期待您的來(lái)電！